دانلود کتاب خارجی - دانلود رایگان کتاب لاتین PDF علمی

تعداد نتایج: 2297

Electron Microscopy

Principles and Fundamentals

$Derived from the successful three-volume Handbook of Microscopy, this book provides a broad survey of the physical fundamentals and principles of all modern techniques of electron microscopy. This reference work on the method most often used for the characterization of surfaces offers a competent comparison of the feasibilities of the latest developments in this field of research. Topics include: * Stationary Beam Methods: Transmission Electron Microscopy/ Electron Energy Loss Spectroscopy/ Convergent Electron Beam Diffraction/ Low Energy Electron Microscopy/ Electron Holographic Methods * Scanning Beam Methods: Scanning Transmission Electron Microscopy/ Scanning Auger and XPS Microscopy/ Scanning Microanalysis/ Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry * Magnetic Microscopy: Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis/ Spin Polarized Low Energy Electron Microscopy Materials scientists as well as any surface scientist will find this book an invaluable source of information for the principles of electron microscopy.$

جزئیات و درخواست

By S. Amelinckx, Dirk van Dyck, J. van Landuyt, Gustaaf van Tendeloo
Publisher: John Wiley & Sons, 2008-09-26
Pages: 527
Language: en
ISBN_13:9783527614554
ISBN_10:3527614559
Subject: Technology & Engineering

Microelectronic Materials and Processes

جزئیات و درخواست

By R.A. Levy
Publisher: Springer Science & Business Media, 2012-12-06
Pages: 992
Language: en
ISBN_13:9789400909175
ISBN_10:9400909179
Subject: Technology & Engineering

The Handbook of Surface Imaging and Visualization

جزئیات و درخواست

By Arthur T. Hubbard
Publisher: CRC Press, 2022-04-13
Pages: 928
Language: en
ISBN_13:9781000714906
ISBN_10:100071490X
Subject: Computers

ToF-SIMS

Materials Analysis by Mass Spectrometry

جزئیات و درخواست

By J. C. Vickerman, David Briggs
Publisher: IM Publications, 2013
Pages: 742
Language: en
ISBN_13:9781906715175
ISBN_10:1906715173
Subject: Mass spectrometry

Applied Surface Analysis

جزئیات و درخواست

By Tery L. Barr
Publisher: ASTM International, 1980
Pages: 215
Language: en

Handbook of Microscopy

Applications in Materials Science, Solid-State Physics, and ...

جزئیات و درخواست

By S. Amelinckx, Dirk van Dyck, J. van Landuyt, Gustaaf van Tendeloo
Publisher: John Wiley & Sons, 2008-08-29
Pages: 507
Language: en
ISBN_13:9783527620531
ISBN_10:3527620532
Subject: Science

Plastics Additives

Advanced Industrial Analysis

جزئیات و درخواست

By Jan C. J. Bart
Publisher: IOS Press, 2006
Pages: 824
Language: en
ISBN_13:9781586035334
ISBN_10:1586035339
Subject: Technology & Engineering

Surface Analysis Methods in Materials Science

جزئیات و درخواست

By D.J. O'Connor, Brett A. Sexton, Roger S.C. Smart
Publisher: Springer Science & Business Media, 2013-06-29
Pages: 588
Language: en
ISBN_13:9783662052273
ISBN_10:366205227X
Subject: Technology & Engineering

Chemical Analysis

A Series of Monographs on Analytical Chemistry and Its Appli...

جزئیات و درخواست

1982
Pages: 230
Language: en
OTHER:CHI:21371239
Subject: Chemistry, Analytic

Surface Characterization

A User's Sourcebook

جزئیات و درخواست

By Dag Brune, Ragnar Hellborg, Harry J. Whitlow, Ola Hunderi
Publisher: John Wiley & Sons, 2008-07-11
Pages: 715
Language: en
ISBN_13:9783527612444
ISBN_10:3527612440
Subject: Science

Electron and Ion Spectroscopy of Solids

جزئیات و درخواست

By L. Fiermans
Publisher: Springer Science & Business Media, 2013-06-29
Pages: 485
Language: en
ISBN_13:9781468428179
ISBN_10:1468428179
Subject: Science

Polymer Surfaces and Interfaces

Characterization, Modification and Applications

جزئیات و درخواست

By Manfred Stamm
Publisher: Springer Science & Business Media, 2008-01-26
Pages: 337
Language: en
ISBN_13:9783540738657
ISBN_10:3540738657
Subject: Technology & Engineering

Thin Film and Depth Profile Analysis

$The characterization of thin films and solid interfaces as well as the determina tion of concentration profiles in thin solid layers is one of the fields which re quire a rapid transfer of the results from basic research to technological applica tions and developments. It is the merit of the Dr. Wilhelm Heinrich and Else Heraeus-Stiftung to promote such a transfer by organizing high standard seminars mostly held at the "Physikzentrum" in Bad Honnef near Bonn. The present book has been stimulated by one of these seminars assembling most of the invited speakers as co-authors. The editor appreciates the cooperation of his colleagues contributing to this book. H. Oechsner Kaiserslautern, April 1984 v Contents 1. Introduction. ByH. Oechsner . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1. 1 Requirements for Thin Film and In-Depth Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1. 2 Object and Outl i ne of the Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 4 References 2. The Application of Beam and Diffraction Techniques to Thin Film and Surface Micro-Analysis. By H. W. Werner (With 25 Fi gures) . . . . . . . . . . . . . . . . 5 2. 1 Methods to Determine Chemical Structures in Material Research 5 2. 2 Selected Analytical Features Used to Determine Chemical Structures 9 2. 2. 1 Depth Profi 1 ing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 9 a) Destructive Depth Profiling b) Nondestructive Methods for Depth and Thin Film Analysis 15 19 2. 2. 2 Microspot Analysis and Element Imaging 2. 3 Determining Physical Structures in Material Research . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 1 X-Ray Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27 2. 3. 2 X-Ray Double Crystal Diffraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28 2. 3.$

جزئیات و درخواست

By H. Oechsner
Publisher: Springer Science & Business Media, 2013-03-08
Pages: 214
Language: en
ISBN_13:9783642464997
ISBN_10:3642464998
Subject: Technology & Engineering

Ion Formation from Organic Solids (IFOS III)

Mass Spectrometry of Involatile Material

$The 3rd International Conference on Ion Formation from Organic Solids (IFOS III) was held at the University of Munster, September 16-18, 1985. The conference was attended by 60 invited scientists from all over the world. Of the 43 papers which were presented, 40 are included in these proceedings. The aim of IFOS III was to promote the exchange of results and new ideas between scientists actively working in the field of mass spectrometry of involatile materials. Various aspects of the ion formation process - realization and optimization, theoretical understanding and analytical application -were treated, as well as instrumental developments. Some emphasis was placed on recent developments in time-of-flight and Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry, and its impact on the mass spectrometry of involatile materials. The most important goal of the conference was to combine facets of the understanding of the most complex ion formation processes with the many different aspects of its analytical application. The participants came from a wide variety of different fields, including pure and applied physics and chemistry, medicine, pharmacy, and space research. Finally, on behalf of all the conference participants, I would like to thank Dr. W. Sichtermann and :\1iss I. Bekemeier for the perfect preparation and technical organization of the conference. The next conference in this series, IFOS IV, is planned for the autumn of 1987, in Munster.$

جزئیات و درخواست

By Alfred Benninghoven
Publisher: Springer Science & Business Media, 2012-12-06
Pages: 228
Language: en
ISBN_13:9783642827181
ISBN_10:3642827187
Subject: Science

Submicroscopic Studies of Soils

جزئیات و درخواست

Publisher: Elsevier, 2011-09-22
Pages: 375
Language: en
ISBN_13:9780080869803
ISBN_10:0080869807
Subject: Science

Progress in Materials Analysis

Vol. 1

جزئیات و درخواست

By M. Grasserbauer, M.K. Zacherl
Publisher: Springer Science & Business Media, 2013-03-14
Pages: 348
Language: en
ISBN_13:9783709139431
ISBN_10:3709139430
Subject: Technology & Engineering

SNARL for Trichloroethylene

Free Epub

جزئیات و درخواست

1979
Pages: 184
Language: en
OTHER:UCR:31210024932186
Subject: Drinking water

Developments in Applied Spectroscopy

Volume 7A Selected papers from the Seventh National Meeting ...

جزئیات و درخواست

By E. L. Grove, Alfred J. Perkins
Publisher: Springer Science & Business Media, 2013-11-11
Pages: 339
Language: en
ISBN_13:9781468487008
ISBN_10:1468487000
Subject: Science

Surface and Thin Film Analysis

A Compendium of Principles, Instrumentation, and Application...

جزئیات و درخواست

By Gernot Friedbacher, Henning Bubert
Publisher: John Wiley & Sons, 2011-03-31
Pages: 514
Language: en
ISBN_13:9783527636938
ISBN_10:3527636935
Subject: Technology & Engineering

Non-destructive Micro Analysis of Cultural Heritage Materials

جزئیات و درخواست

By K. Janssens, R. Van Grieken
Publisher: Elsevier, 2004-11-26
Pages: 850
Language: en
ISBN_13:9780080454429
ISBN_10:0080454429
Subject: Antiques & Collectibles

«1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 »

سایت دانلود کتاب خارجی

نحوه دانلود و خرید کتاب های خارجی

ابتدا در قسمت جستجوی سایت، کلمه کلیدی مد نظر خود را وارد کنید، سپس فیلتر مد نظر خود را انتخاب کنید که در کدام مشخصه کتاب جستجو انجام شود. پس از انتخاب فیلتر مدنظر خود (نویسنده، ناشر، شناسه ISBN، موضوع و یاهمه قسمت ها دکمه جستجو را بزنید. در نتایج می توانید کتاب خارجی مد نظر خود را انتخاب کنید و سپس درخواست خود را برای خرید کتاب خارجی ثبت کنید.

جستجو و دانلود کتاب لاتین

برای دانلود کتاب های لاتین ابتدا کلمه کلیدی خود را داخل کادر جستجو وارد کنید و سپس زبان مربوطه را انتخاب کنید (انگلیسی، اسپانیایی، فرانسوی، آلمانی و ...) و در نهایت دکمه جستجو را بزنید. از نتایج جستجو کتاب لاتین مد نظر خود را انتخاب کنید و سپس درخواست آن را ثبت کنید. همکاران ما در کمتر چند ساعت درخواست شما را بررسی و قیمت گذاری می کنند.

خرید کتاب از آمازون

چاپ کتاب زبان اصلی

دانلود کتاب از آمازون

خرید کتاب از گوگل بوکز

خرید کتاب زبان اصلی

سایت خرید کتاب زبان اصلی

نحوه ثبت درخواست دانلود کتاب لاتین

پس از جستجو و یافتن کتاب و یا منابع لاتین، روی تصویر کتاب و یا دکمه درخواست کلیک کنید و سپس در صفحه ثبت درخواست، مشخصات کامل درخواست خود را بررسی و ایمیل و شماره تماس خود را وارد کنید. در نهایت همکاران ما هزینه و مدت زمان تهیه کتاب خارجی شما را بررسی و از طریق پیامک و ایمیل به شما اطلاع رسانی خواهند کرد. شما پس از پرداخت وجه روی لینک دانلود کتاب لاتین کلیک کنید و کتاب خود را دانلود و استفاده کنید.

کتاب زبان اصلی J.R.R

دانلود کتاب لاتین

خرید کتاب لاتین

خرید مانگا

خرید کتاب از گوگل بوکز

دانلود رایگان کتاب از گوگل بوکز

دانلود رایگان کتاب از آمازون

دانلود رایگان کتاب از گوگل بوکز

کتاب روانشناسی به انگلیسی

کتاب زبان اصلی

کتاب خارجی

سایت خرید کتاب زبان اصلی