برای ثبت درخواست به انتهای صفحه مراجعه کنید.

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Description:... The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization

Show description

* ایمیل (آدرس Email را با دقت وارد کنید)
لینک پیگیری درخواست ایمیل می شود.
شماره تماس (ارسال لینک پیگیری از طریق SMS)
نمونه: 09123456789

در صورت نیاز توضیحات تکمیلی درخواست خود را وارد کنید

* تصویر امنیتی
 

به شما اطمینان می دهیم در کمتر از 8 ساعت به درخواست شما پاسخ خواهیم داد.

* نتیجه بررسی از طریق ایمیل ارسال خواهد شد

ضمانت بازگشت وجه بدون شرط
اعتماد سازی
انتقال وجه کارت به کارت
X

پرداخت وجه کارت به کارت

شماره کارت : 6104337650971516
شماره حساب : 8228146163
شناسه شبا (انتقال پایا) : IR410120020000008228146163
بانک ملت به نام مهدی تاج دینی

پس از پرداخت به صورت کارت به کارت، 4 رقم آخر شماره کارت خود را برای ما ارسال کنید.
X